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      1. GW-4040XRF岩屑元素分析仪
        GW-4040 XRF岩屑元素分析仪
        GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术,这项技术的独到之处在于:能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性,再通过岩性的组合特征分析来判断层位.因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
        测量内容:Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
        使用用途:油气开采过程中的岩屑录井检测
        产品特点
        • 性能

          高性能
          优选进口X射线管以及高性能探测器,确保长期的稳定性以及准确度。
          快响应
          相对于传统的实验室化验等方式,光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。
          长寿命
          无需耗材,寿命最长可达5-8年,综合使用成本更低。
        • 便携性

          相对于传统类的实验室设备,我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备,方便在作业现场进行便携使用。
          为了更好的让客户在野外操作,设备还需抗震和牢固,我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱,让运输更安全。
          其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工,从来稳定性牢固性更好。
        • 准确性

          仪器集成了管压检测、温度检测,实时监控腔内的真空压力和温度,确保检测的精度。
          真空腔内置过滤隔离装置,仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子,导致污染损坏。
          内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态,提供检测的准确度。
        技术指标
        分析元素

        Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

        探测下限

        Al、Si、P、S、Ca:0.01%

        Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn:0.001%

        分析范围 0.0001%-100%

        能量范围

        1-30keV

        采样时间

        <180s

        重复性误差

        ≤±1%F.S

        稳定性 ≤±1%F.S
        输出信号

        RS-232&USB数字输出

        配件

        真空泵+笔记本电脑+压片机

        外壳尺寸

        355*250*380(长*宽*高)

        重量

        36Kg


        *具体量程可能会有细微偏差。

        *工作在温度25℃和1013mbar测试数据

        应用领域
        GW-4040型XRF岩屑元素分析仪,是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性,以及传统设备的不便捷性,更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备,目前在油田得到广大客户的使用。
        产品主要用于以下场合:
        ● 油气钻井岩屑录井;
        ● 物探岩石检测等。
        同类机型
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